CEL PRZEDMIOTU
Celem przedmiotu jest przekazanie wiadomości z zakresu: podstawowych pojęć z dziedziny statystyki, podziału metod i rodzaju kontroli statystycznej, stosowania metod do sterowania jakością w procesach, i doskonalenia jakości przy pomocy metod statystycznych i innych metod w zarządzaniu jakością, wyznaczania zdolności jakościowej maszyny i jej wpływu na jakość procesów wytwarzania
ZAKRES TEMATYCZNY PRZEDMIOTU
Wykład: W ramach wykładu omawiane są następujące zagadnienia: Wprowadzenie. Historia zapewniania jakości wyrobów, usług i procesów. Zapewnienie jakości a sterowanie jakością (SJ). Pojęcia i narzędzia statystyki matematycznej stosowane w SJ. Wskaźniki statystyczne w SJ: miary skupienia: średnia arytmetyczna, mediana, moda; miary rozproszenia: rozstęp, odchylenie standar-dowe, zmienność, kwantyle. Rozkłady statystyczne dla zmiennych ciągłych i dyskretnych stosowane SJ. Testy statystyczne, w tym testy rozkładu. Przegląd narzędzia sterowania jakością: schemat działań, zbiory danych, karty zdarzeń, arkusze kontrolne, histogramy, diagramy przyczynowo-skutkowe Ishikawy, diagram Pareto-Lorenza, diagramy korelacji, diagramy rozproszenia, karty kontrolne, diagramy relacji, diagramy pokrewieństwa, diagram systematyki, diagramy macierzowe. Technika kart kontroli jakości. Idea kart kontrolnych, granice interwencji i granice ostrzegania. Karty kontrolne dla cech dyskretnych (przegląd). Karty kontrolne dla cech ciągłych (przegląd). Zasady prowadzenia i interpretacji KK. Karty kontrolne z pamięcią: CUSUM, EWMA, MOSUM.
WARUNKI ZALICZENIA
Laboratorium: Zaliczenie na ocenę. Ocena wyznaczana na podstawie kolokwium zaliczeniowego weryfikującego znajomość podstawowych zagadnień i umięjętność rozwiązywania zadań.
Wszystkie zamieszczone dokumenty zostały zapisane w formacie PDF. Do ich odczytania należy pobrać i zainstalować program Acrobat Reader.
Statistica
- 01. Wprowadzenie do programu
- 02. Funkcje podstawowe
- 03. Graficzna prezentacja danych
- 04. Hipotezy parametryczne
- 05. Analiza mocy testów
- 06. Hipotezy nieparametryczne
- 07. SPC, karty kontrolne dla cech ciągłych
- 08. SPC, karty kontrolne - skuteczność
- 09. SPC, karty sekwencyjne
- 10. SPC, karty dla cech dyskretnych
- 11. SPC, analiza zdolności procesu
Dodatki
- Dodatek01a - Pojęcia podstawowe, rozkłady, estymacja punktowa
- Dodatek01b - Graficzna prezentacja danych
- Dodatek02 - Hipotezy parametryczne
- Dodatek03 - Hipotezy nieparametryczne
- Dodatek04 - SPC, karty kontrolne dla cech ciągłych
- Dodatek05 - SPC, karty kontrolne dla cech ciągłych cd.
- Dodatek06 - SPC, karty sekwencyjne
- Dodatek07 - SPC, karty dla cech dyskretnych
- Dodatek08 - SPC, analiza zdolności procesu
Laboratorium
Literatura
- 1. Hamrol A.: Zarządzanie jakością z przykładami. PWN, Warszawa 2008.
- 2. Dietrich E., Schulze A.: Metody statystyczne w kwalifikacji środków pomiarowych maszyn i procesów produkcyjnych, Notika System, Warszawa 2000.
- 3. Hamrol A., Mantura W.: Zarządzanie jakością, PWN Warszawa 2004.
- 4. Grzenkowicz N., i inni: Zarządzanie jakością – metody i instrumenty controllingu jakości. Wyd. Wydziału Zarządzania Uniwersytetu Warszawskiego, Warszawa 2009.
- 5. Sałaciński T.: SPC Statystyczne sterowanie procesami produkcji. Oficyna Wydawnicza Poli-techniki Warszawskiej, Warszawa 2009
Linki
- Centrum komputerowe UZ
- STATISTICA na stronie uz (w sprawie "klucza seryjnego" proszę o kontakt mailowy)
Materiały przeznaczone dla kierunku Zarządzanie i Inżynieria Produkcji, studia niestacjonarne